Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Sutoh Y., Itoh M., Igarashi M., Hanyu S., Kutami H., Kikutake R., Daibo M., Suzuki R.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Nakamura N., Takemoto T., Kikutake R.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, high rate process, REBCO, IBAD process, PLD process, substrate Ni alloy, fabrication, texture, critical current distribution, length
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Fujita S., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K., Nakamura N.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K., Nakamura N.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, buffer layers, texture, microstructure, fabrication, length
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Fujita S., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Morita K., Nakamura N.
Iijima Y., Saitoh T., Kakimoto K., Sutoh Y., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C., Morita K.
Ключевые слова: HTS, REBCO, IBAD process, high rate process, fabrication, long conductors, texture, critical caracteristics, critical current, length
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, IBAD process, fabrication, buffer layers, high rate process, microstructure
Iijima Y., Saitoh T., Fuji H., Kakimoto K., Igarashi M., Hanyu S., Hanada Y., Kutami H., Hayashida T., Tashita C.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.